測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:12-19 2023 來自:祥宇精密
一、影像測量儀的基本原理
影像測量儀是一種基于光學原理的高精度測量設備。它通過將被測物體放置在測量臺上,利用顯微鏡對物體進行放大并獲取清晰的圖像,然后通過計算機對圖像進行處理和分析,從而得到物體的尺寸、形狀、位置等參數(shù)。
二、影像測量儀的校準方法
在進行影像測量儀的校準時,首先需要做好以下準備工作:
(1)確保測量室內溫度、濕度、灰塵等環(huán)境因素符合要求,以保證測量結果的準確性;
(2)檢查影像測量儀的電源、電纜等連接是否正常;
(3)將被測物體放置在測量臺上,調整顯微鏡的倍數(shù)和焦距,使圖像清晰可見;
(4)選擇合適的校準件,如標準塊或標準球等。
在選擇校準點時,需要選擇具有代表性的點進行校準。一般而言,校準點應該分布在被測物體的不同位置和方向上,以便全面評估影像測量儀的測量精度。
(1)絕對校準法
絕對校準法是指通過直接比較被測物體與標準件之間的尺寸差異來評估影像測量儀的測量精度。具體而言,將標準件放置在測量臺上,調整顯微鏡的倍數(shù)和焦距,使標準件的圖像清晰可見。然后使用計算機軟件對標準件的圖像進行處理和分析,得到標準件的尺寸參數(shù)。接著將被測物體放置在測量臺上,同樣調整顯微鏡的倍數(shù)和焦距,并使用計算機軟件對被測物體的圖像進行處理和分析,得到被測物體的尺寸參數(shù)。最后比較被測物體與標準件之間的尺寸差異,從而評估影像測量儀的測量精度。
(2)相對校準法
相對校準法是指通過比較被測物體在不同位置和方向上的尺寸差異來評估影像測量儀的測量精度。具體而言,將被測物體放置在測量臺上,調整顯微鏡的倍數(shù)和焦距,使被測物體的圖像清晰可見。然后使用計算機軟件對被測物體的圖像進行處理和分析,得到被測物體在不同位置和方向上的尺寸參數(shù)。接著將同一物體放置在另一個位置或方向上,重復上述步驟,得到同一物體在不同位置和方向上的尺寸參數(shù)。最后比較同一物體在不同位置和方向上的尺寸差異,從而評估影像測量儀的測量精度。
在進行影像測量儀的校準時,需要對校準結果進行處理和分析。一般而言,校準結果應該包括被測物體的尺寸參數(shù)、偏差值、標準偏差、重復性等指標。根據(jù)這些指標可以對影像測量儀的測量精度進行評估和判斷。如果發(fā)現(xiàn)偏差值較大或重復性較差等問題,需要及時采取措施進行修正和調整。